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當(dāng)前位置:首頁 > 技術(shù)文章3-24
FCC/CE認(rèn)證中的輻射發(fā)射要求及預(yù)測試技巧,直擊電子產(chǎn)品出口認(rèn)證的痛點(diǎn)——認(rèn)證周期長、整改成本高。廣電計(jì)量創(chuàng)新性地推出“預(yù)測試+整改+正式認(rèn)證”的一站式服務(wù)模式。我們擁有專業(yè)的預(yù)掃描實(shí)驗(yàn)室,幫助客戶在進(jìn)入昂貴的正式認(rèn)證前快速摸底,依據(jù)CI...
3-24
如何提升設(shè)備在強(qiáng)電磁環(huán)境下的抗干擾能力?這需要從設(shè)計(jì)階段的預(yù)評估到測試階段的嚴(yán)格驗(yàn)證形成閉環(huán)。廣電計(jì)量作為全國規(guī)模大、能力全的電磁兼容檢測機(jī)構(gòu),具備全項(xiàng)的輻射抗擾度(RS)與傳導(dǎo)抗擾度(CS)測試能力。我們通過模擬現(xiàn)實(shí)中的射頻電磁場、電快速...
3-24
車載緊急呼叫系統(tǒng)NGeCall技術(shù)原理與測試要求,是當(dāng)前汽車出口企業(yè)必須關(guān)注的技術(shù)要點(diǎn)。廣電計(jì)量作為國內(nèi)投建5GNReCall檢測能力的前沿實(shí)驗(yàn)室,已構(gòu)建起*的系統(tǒng)級測試解決方案。我們配備了支持LTE/5GNR信號的CMX500模擬器及多模...
3-24
廣電計(jì)量元器件腐蝕驗(yàn)證針對易發(fā)生腐蝕的電阻、電容、磁珠、LED、IGBT、PCB、微波射頻陶瓷封裝焊料、裸芯片PAD等,及防護(hù)工藝、防護(hù)材料。有針對性地開展硫化腐蝕、鹵素腐蝕、助焊劑腐蝕、VOC腐蝕等各種耐腐蝕驗(yàn)證、腐蝕壽命驗(yàn)證。服務(wù)內(nèi)容·...
3-23
隨著數(shù)據(jù)中心對高速率、低功耗傳輸需求的激增,硅光芯片的規(guī)模化應(yīng)用已成為必然趨勢。面向數(shù)據(jù)中心應(yīng)用的硅光芯片可靠性驗(yàn)證方法,直接關(guān)系到光模塊在長期服役中的穩(wěn)定性與壽命。廣電計(jì)量構(gòu)建了覆蓋器件級-晶圓級-系統(tǒng)級的全生命周期質(zhì)量解決方案,特別針對...
3-23
在材料科學(xué)與失效分析領(lǐng)域,準(zhǔn)確獲取材料的元素構(gòu)成是破解諸多技術(shù)難題的關(guān)鍵步驟。材料成分分析的利器:X射線能譜(EDS)技術(shù)原理解析,正是為了幫助研發(fā)與工藝人員深入理解這一核心技術(shù)。廣電計(jì)量依托其構(gòu)建的覆蓋半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈的前沿檢測分析體系,利...
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